비침습적 최종 마일 커버리지 폐쇄를 위한 형식 검증 기반 베이지안 최적화

요약

본 논문은 칩 설계에서 비용이 많이 드는 최종 마일 기능적 커버리지 폐쇄 문제를 해결하기 위한 비침습적 워크플로우를 제시합니다. 이 방법은 AST 파싱과 COI 추적을 통해 잔여 타겟을 매핑하고, 베이지안 최적화(BO)와 형식 검증을 결합하여 효율적으로 빈을 폐쇄하는 과정을 보여줍니다.

핵심 포인트

• AST 및 COI 추적을 활용해 테스트벤치 노브에 잔여 타겟을 매핑합니다.
• 베이지안 최적화(BO)를 통해 시뮬레이션 예산 내에서 커버리지를 효율적으로 달성했습니다.
• 형식 검증은 완전한 비도달성 증명으로만 타겟을 제거하여 정확도를 높입니다.
• 난이도 그룹화 및 사후 정리 BO가 최종 커버리지 목표 달성에 기여했음을 입증했습니다.