불량 분석(Failure analysis)은 이종 집적(Heterogeneous integration), 칩렛(Chiplet) 기반 아키텍처, 하이브리드 본딩(Hybrid bonding), 후면 기술(Backside technologies), 그리고 점점 더 매립되는 패키지 구조에 의해 재편되고 있습니다. 실무자들이 이러한 전환을 어떻게 바라보는지 조사하기 위해, 반도체 설계, 패키징, 시스템, 툴 및 불량 분석에 참여하는 광범위한 조직을 대상으로 익명 설문조사를 실시했습니다. 이 설문조사는 약 100개의 응답을 수집하였으며, 조직의 배경, 지원하는 제품 도메인, 불량 분석의 미래 우선순위, 핵심 병목 현상, 시료 준비(Sample preparation)의 어려움, 새롭게 등장하는 아키텍처 특유의 고충(Pain points), 그리고 워크플로우 가속화 및 데이터 표준화에 대한 인식된 요구사항을 조사했습니다. 결과에 따르면, 응답자의 69%가 이종 집적(Heterogeneous integration), 칩렛(Chiplet) 및 3차원(3D) 제품 분야에 종사하고 있으며, 패키징 및 이종 집적 불량 분석이 10점 만점에 7.92점으로 가장 높은 중요도 점수를 받았습니다. 하이브리드 본딩(Hybrid bonding)은 분석하기 가장 어려운 새로운 아키텍처로 54%의 응답을 얻었으며, 고해상도 비파괴 이미징(Non-destructive imaging)은 10점 만점에 8.18점으로 가장 중요한 미래 가속화 요소로 선정되었습니다. 또한 응답자의 83%가 공식화된 데이터 표준화 프레임워크를 지지했습니다. 투명성을 높이고 향후 벤치마킹을 지원하기 위해 전체 설문 데이터는 부록 A(Table II)에 제공됩니다.