사전 실리콘 펌웨어 공동 최적화를 통한 3.5D 이종 패키지의 공정 유도 성능 저하 완화 연구
요약
Intel의 3.5D 이종 패키징 기술을 위한 사전 실리콘 펌웨어 및 하드웨어 공동 최적화 연구를 다룹니다. 열-전기 공동 시뮬레이션을 통해 워크로드 밀도 기반의 열 힌팅 기술이 전압 안정성과 HBM 누설 전류 억제에 미치는 효과를 입증했습니다.
핵심 포인트
- 3.5D 이종 패키징을 위한 물리 인지 예측 펌웨어 스케줄링 계층 제시
- 열-전기 공동 시뮬레이션을 통한 PowerVia 전압 레일 사전 배치 가능성 확인
- EDA 가드밴드 65-68% 감소 및 컴퓨팅 자원 20-30% 확보 잠재력 입증
- 공정 변이 하에서의 견고함을 몬테카를로 분석으로 검증
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