p-n 접합 다이오드를 위한 물리 정보 기반 불확실성 인식 서로게이트

요약

본 연구는 소자 길이, 도핑, 바이어스 조건 하의 1차원 p-n 접합 다이오드를 위한 물리 정보 기반 불확실성 인식 서로게이트를 개발했습니다. 이 모델은 단자 전류, 공핍 폭 등 관심량 테스트 스위트를 포함하며, 비대칭 및 2차원 다이오드로 확장 가능합니다. 또한 사용자가 지정한 허용 오차 내에서 답변의 유효성을 판단하는 불확실성 분석 기능을 제공합니다.

핵심 포인트

• 1D p-n 접합 다이오드를 위한 물리 정보 기반 서로게이트를 개발함.
• 관심량 테스트 스위트(전류, 공핍 폭 등)를 구축하여 모델의 검증에 활용함.
• 대칭 접합에서 정전기적 전위 오차는 0.11%로 측정됨.
• 불확실성 분석을 통해 서로게이트 답변의 유효성을 판단할 수 있음.