Miter-Aware LUT 매핑: 효율적인 논리 동치 검사를 위한 구조 및 해법 정렬

요약

본 논문은 하드웨어 검증 작업인 논리 동치 검사(LEC)의 성능 저하 문제를 해결하기 위한 miter-aware 매핑 프레임워크를 제안합니다. 이 방법은 기존 넷리스트 대신 LUT 기반의 miter를 구성하여 구조적 대응 관계와 고수준 논리 관계를 명시적으로 보존합니다. 이를 통해 SAT 솔버가 효율적으로 작동하도록 LEC 성능을 크게 향상시킬 수 있음을 입증했습니다.

핵심 포인트

• miter 모델링 자체의 중요성을 강조하며, 전략적 문제 공식화에 초점을 맞춤.
• LUT 기반 miter를 구성하여 구조적 대응 관계와 논리 관계를 보존함.
• 동치성 보존 매핑, Gaussian-guided XOR 모델링 등을 통합한 프레임워크를 제시함.
• 기존 최고 성능 SAT 솔버 대비 최대 92.1%의 감소율을 달성하며 효율성을 입증함.