Gap Index를 이용한 차원 축소 산점도의 빈 영역 내 왜곡 측정
요약
차원 축소 시 발생하는 시각적 왜곡을 측정하기 위해 빈 영역(empty areas)의 왜곡을 포착하는 새로운 품질 지표인 Gap Index(GI)를 제안합니다. GI는 공간을 삼각형으로 분해하여 고차원 데이터와의 변형을 계산하며, 기존 지표보다 구조적 변형에 민감하게 반응합니다.
핵심 포인트
- 기존 지표가 간과하던 차원 축소 레이아웃의 빈 영역 왜곡을 측정
- Gap Index(GI)는 공간을 빈 삼각형으로 분해하여 변형을 계산
- 시각적으로 중요한 작은 구조적 변형에 대해 높은 민감도 제공
- 빠른 계산 속도와 직관적인 지역적 왜곡 패턴 시각화 가능
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