Belle II를 위한 배포된 그래프 신경망 트리거의 RTL 결함 주입 (RTL Fault Injection)

요약

Belle II 실험의 FPGA 기반 GNN 트리거 시스템을 대상으로 RTL 결함 주입 연구를 수행했습니다. 방사선 노출로 인한 데드락, 타임아웃, 패킷 무결성 위반 등의 고장 모드를 분석하여 하드웨어 신뢰성을 평가했습니다.

핵심 포인트

• GNN-ETM 트리거 시스템에 대한 최초의 RTL 결함 주입 연구
• 방사선으로 인한 데드락, 타임아웃, 패킷 무결성 위반 분석
• 단계 간 활성 모니터링(inter-stage liveness monitoring) 제안
• 기존 방식 대비 MTTF 추정치 최대 78.7% 차이 발견
• 하드웨어 하드닝(hardening)을 위한 우선순위 데이터 도출