클러스터 기반 FPGA 아키텍처에서 단일 고착 및 브리징 결함 감지

요약

본 논문은 클러스터 기반 FPGA 아키텍처에서 단일 고착 및 브리징 결함을 감지하는 새로운 테스트 기술을 제시합니다. 이 방법은 테스트 패턴 생성기와 출력 응답 분석 회로를 활용하며, 동일한 테스트 벡터 세트를 사용하여 두 가지 유형의 결함 모두를 효과적으로 검출할 수 있다는 것이 핵심입니다.

핵심 포인트

• 클러스터 기반 FPGA 아키텍처에 적용되는 새로운 기술.
• 단일 고착 및 브리징 결함을 동시에 감지 가능.
• 동일한 테스트 벡터 세트를 활용하여 효율성을 높임.
• 테스트 로직 구조를 통해 두 로직 요소의 출력을 비교 분석.